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Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems
SCIE
ISSN:1932-5150
参考译名:微纳光刻技术杂志杂志
E-ISSN:1932-5134
期刊导读:
《Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems》是一本由SPIE出版商出版的物理与天体物理国际刊物,国际简称为J MICRO-NANOLITH MEM,中文名称微纳光刻技术杂志。该刊创刊于2007年,出版周期为Quarterly。 《Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems》2023年影响因子为0,被收录于国际知名权威数据库SCIE。

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中科院分区2区
JCR分区Q3
影响因子-
预计审稿周期较慢,6-12周
基本信息
大类学科:物理
小类学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC-NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
出版商:SPIE
是否开放:No
出版语言:English
出版地区:UNITED STATES
出版周期:Quarterly
出版年份:2007
Gold OA文章占比:7.69%
是否预警:否
截稿时间:长期
期刊简介

《Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems》重点专注发布ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC-NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY领域的新研究,旨在促进和传播该领域相关的新技术和新知识。鼓励该领域研究者详细地发表他们的高质量实验研究和理论结果。根据网友分享的投稿经验,平均审稿速度为 较慢,6-12周 。该杂志创刊至今,在ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC-NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY领域,影响力非凡,对来稿文章质量要求很高,稿件投稿过审难度很大,刊登文章的学术水平和编辑质量在同类杂志中均名列前茅。如果你想在该杂志上发表论文,你可以向编辑部提交文章,但文章必须具有重要意义并代表该领域专业的发展。我们欢迎广大同领域的研究者提交投稿。

近年评价数据趋势图
CiteScore指数统计
CiteScore指标的应用非常广泛,以期刊的引用次数为基础评估期刊的影响力。它可以反映期刊的学术影响力和学术水平,是学术界常用的期刊评价指标之一。
CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
3.4 0.393 1.723 学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering
小类:MechanicalEngineering
Q2 299/672
55%
55% Complete
大类:Engineering
小类:ElectricalandElectronicEngineering
Q2 389/797
51%
51% Complete
大类:Engineering
小类:AtomicandMolecularPhysics,andOptics
Q3 113/224
49%
49% Complete
大类:Engineering
小类:CondensedMatterPhysics
Q3 223/434
48%
48% Complete
大类:Engineering
小类:Electronic,OpticalandMagneticMaterials
Q3 155/284
45%
45% Complete
CiteScore是由Elsevier公司开发的一种用于衡量科学期刊影响力的指标,以期刊的引用次数为基础评估期刊的影响力。这个指标是由Scopus数据库支持,以四年为一个时段,连续评估期刊和丛书的引文影响力的。具体来说,CiteScore是计算某期刊连续三年发表的论文在第四年度的篇均引用次数。CiteScore和影响因子(IF)有所不同。例如,在影响因子的计算中,分子是来自所有文章的引用次数,包括编辑述评、读者来信、更正信息和新闻等非研究性文章,而分母则不包括这些非研究性文章。然而,在CiteScore的计算中,分子和分母都包括这些非研究性文章。因此,如果这些非研究性文章比较多,由于分母较大,相较于影响因子,CiteScore计算出来的分数可能会偏低。此外,CiteScore的引用数据来自Scopus数据库中的22000多个期刊,比影响因子来自Web of Science数据库的11000多个期刊多了一倍。
WOS(JCR)分区
按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 187 / 275
32.2%
32.2% Complete
学科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q3 255 / 342
25.6%
25.6% Complete
学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q4 91 / 107
15.4%
15.4% Complete
学科:OPTICS SCIE Q3 68 / 100
32.5%
32.5% Complete
WOS(JCR)分区是由科睿唯安公司提出的一种新的期刊评价指标,分区越靠前一般代表期刊质量越好,发文难度也越高。这种分级体系有助于科研人员快速了解各个期刊的影响力和地位。JCR将所有期刊按照各个学科领域进行分类,然后以影响因子为标准平均分为四个等级:Q1、Q2、Q3和Q4区。这种设计使得科研人员可以更容易地进行跨学科比较。
中科院SCI期刊分区
中科院SCI期刊分区是由中国科学院国家科学图书馆制定的。将所有的期刊按照学科进行分类,以影响因子为标准平均分为四个等级。分区越靠前一般代表期刊质量越好,发文难度也越高。
2023年12月升级版
Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
物理与天体物理
2区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
3区
2022年12月升级版
Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
物理与天体物理
3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区
2021年12月旧的升级版
Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区
2021年12月基础版
Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区
2021年12月升级版
Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区
2020年12月旧的升级版
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工程技术
3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区
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